KAIST 공동 연구팀이 자기장에 따른 밝기 변화를 분석해 청색 인광 유기발광다이오드(OLED)의 수명을 가늠하는 방법을 개발했습니다. 연구팀은 이 방법으로 OLED 시제품의 수명 가능성을 초기 단계에서 살펴볼 수 있다고 설명했습니다.
기존에는 OLED를 수십~수백 시간 켜 둔 뒤 밝기가 얼마나 줄었는지 확인하는 방식이 쓰였습니다. 연구팀은 OLED에 일정한 전류를 흘려 빛을 내게 하고, 전자석으로 자기장 세기를 바꾸면서 밝기 변화를 측정했습니다. 자기장에 반응해 밝기가 달라지는 정도에서 수명 저하와 관련된 부분을 분리해 평가 수치로 만들었습니다.
연구팀은 같은 발광 물질을 사용하고 내부 구조만 다른 청색 인광 OLED 네 종류에 이 방법을 적용했습니다. 초기 측정에서 자기장에 따른 밝기 변화가 작았던 소자는 장시간 작동 시험에서도 초기 밝기를 더 오래 유지했습니다.
따라서 이 방법은 디스플레이 기업이나 연구소가 여러 시제품 가운데 후속 개발에 집중할 대상을 고르는 데 활용될 가능성이 있습니다. 다만 연구팀은 소재나 내부 구조가 달라지면 자기장에 반응하는 요인도 달라질 수 있어, 다양한 OLED에 적용하려면 추가 검증이 필요하다고 밝혔습니다.
연구 결과는 국제학술지 네이처 커뮤니케이션즈에 9월 30일 온라인 게재됐습니다.